- Title
- Analytical Method to Evaluate Soft Error Rate Due to Alpha Contamination
- Creators - without role
- A. Kaouache - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESR. D. Schrimpf - Vanderbilt University
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.60(6), pp.4059 - 4066
- Identifiers
- 9944460509311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01634036
Journal article
Analytical Method to Evaluate Soft Error Rate Due to Alpha Contamination
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.60(6), pp.4059 - 4066
12/2013
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