- Titre
- Analysis of mesoporous thin films by X-ray reflectivity, optical reflectivity and grazing incidence small angle X-ray scattering
- Créateurs - sans rôle
- Alain Gibaud - Le Mans UniversitéSandrine Dourdain - Laboratoire de physique de l'état condenséG. Vignaud - Laboratoire d'Ingénierie des Matériaux de BretagneBrookhaven National Laboratory (BNL) National Synchrotron Light Source
- Détails de publication
- Applied surface science, Vol.253(1), pp.3-11
- Éditeur
- Elsevier
- Nombre de pages
- 9
- Identifiants
- 99149864209311
- Unité académique
- Institut de Chimie Séparative de Marcoule - ICSM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
Article de revue
Analysis of mesoporous thin films by X-ray reflectivity, optical reflectivity and grazing incidence small angle X-ray scattering
Applied surface science, Vol.253(1), pp.3-11
31/10/2006
Indicateurs
1 Consultations de la notice