- Title
- Analysis of Single-Event Effects in DDR3 and DDR3L SDRAMs Using Laser Testing and Monte-Carlo Simulations
- Creators - without role
- P. Kohler - One NucleusVincent Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESPierre-Xiao Wang - One NucleusM.-C. Vassal - One Nucleus
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.65(1), pp.262 - 268
- Identifiers
- 9942079709311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01927959
Journal article
Analysis of Single-Event Effects in DDR3 and DDR3L SDRAMs Using Laser Testing and Monte-Carlo Simulations
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.65(1), pp.262 - 268
01/2018
Metrics
1 Record Views