- Titre
- Analysis of Data Obtained Using the Thermal-Step Method on a MOS Structure—An Electrostatic Approach
- Créateurs - sans rôle
- Petru Jr. Notingher - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLudovic Boyer - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESOlivier Fruchier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESSerge Agnel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAlain Toureille - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESBernard Rousset - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des SystèmesJean-Louis Sanchez - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes
- Détails de publication
- IEEE Transactions on Industry Applications, Vol.46(3), pp.1144 - 1150
- Identifiants
- 99152735109311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-01629118
Article de revue
Analysis of Data Obtained Using the Thermal-Step Method on a MOS Structure—An Electrostatic Approach
IEEE Transactions on Industry Applications, Vol.46(3), pp.1144 - 1150
05/2010
Indicateurs
1 Consultations de la notice