- Title
- An All-Digital DFT Scheme for Testing Catastrophic Faults in PLLs
- Creators - without role
- Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Université de MontpellierMichel Renovell - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierAndré Ivanov - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMSassan Tabatabaei - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Publication Details
- IEEE Design & Test, Vol.20(1), pp.60-67
- Identifiers
- 9947003609311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- lirmm-00269822
Journal article
An All-Digital DFT Scheme for Testing Catastrophic Faults in PLLs
IEEE Design & Test, Vol.20(1), pp.60-67
2003
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