- Titre
- "Adsorption-desorption isotherms of nanoporous thin films measured by X-ray reflectometry"
- Créateurs - sans rôle
- M. Klotz - Saint-GobainV. Rouessac - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEMD. Rebiscoul - CEA GrenobleA. Ayral - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEMA. van Der Lee - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
- Détails de publication
- Thin Solid Films, Vol.495, pp.214-218
- Identifiants
- 99151808109311
- Unité académique
- Institut Européen des Membranes - IEM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-00080016
Article de revue
"Adsorption-desorption isotherms of nanoporous thin films measured by X-ray reflectometry"
Thin Solid Films, Vol.495, pp.214-218
2006
Indicateurs
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