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Academic Network for Microelectronic Test Education
Article de revue   Open Access   Avec comité de lecture

Academic Network for Microelectronic Test Education

Franc Novak, Anton Biasizzo, Yves Bertrand, Marie-Lise Flottes, Luz Balado, Joan Figueras, Stefano Di Carlo, Paolo Ernesto Prinetto, Nicoleta Pricoli, Hans-Joachim Wunderlich, …
International Journal of Engineering Education, Vol.23(6), pp.1245-1253
12/2007

Résumé

test education automatic test equipment memory test mixed-signal test digital test remote on-line test microelectronic circuit test

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