A model current spectral density for hot‐carrier noise in semiconductors

Article de revue

Avec comité de lecture

Tilmann Kuhn, Lino Reggiani et Luca Varani

Journal of applied physics, Vol.69(10), pp.7097-7101

15/05/1991

Résumé

Computational Physics

Condensed Matter

Electronics

Engineering Sciences

Materials Science

Physics

1 Consultations de la notice

Titre: A model current spectral density for hot‐carrier noise in semiconductors
Créateurs - sans rôle: Tilmann Kuhn
Lino Reggiani - Dipartimento di Ingegneria dell’Innovazione, Universita’ di Lecce and INFM
Luca Varani - CNR-INFM and Dipartimento di Fisica, Università di Modena e Reggio Emilia
Détails de publication: Journal of applied physics, Vol.69(10), pp.7097-7101
Éditeur: American Institute of Physics
Nombre de pages: 5
Identifiants: 99162744209311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Journal article