- Title
- A calculation method to estimate single event upset cross section
- Creators - without role
- Frédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESVincent Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLuigi Dilillo - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsJérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publication Details
- Microelectronics Reliability, Vol.76-77, pp.644-649
- Identifiers
- 9945001609311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01636059
Journal article
A calculation method to estimate single event upset cross section
Microelectronics Reliability, Vol.76-77, pp.644-649
09/2017
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