A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects

Journal article

Peer reviewed

Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch and Arnaud Virazel

IEEE Transactions on Computers, Vol.59(3), pp.289-300

01/03/2010

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Title: A Comprehensive Framework for Logic Diagnosis of Arbitrary Defects
Creators - without role: Alberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Patrick Girard - Université de Montpellier
Serge Pravossoudovitch - Université de Montpellier
Arnaud Virazel - Université de Montpellier
Publication Details: IEEE Transactions on Computers, Vol.59(3), pp.289-300
Identifiers: 9942362109311
Academic Unit: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Language: English
Resource Type: Journal article
Local Fields: lirmm-00553545