- Title
- A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes
- Creators - without role
- Fangmei Wu - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMLuigi Dilillo - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesAlberto Bosio - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesPatrick Girard - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesSerge Pravossoudovitch - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesArnaud Virazel - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesMohammad Tehranipoor - University of ConnecticutXiaoqing Wen - Kyushu Institute of TechnologyNisar Ahmed - Texas Instruments
- Publication Details
- Journal of Low Power Electronics, Vol.6(2), pp.359-374
- Identifiers
- 9942261309311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- lirmm-00553548
Journal article
A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes
Journal of Low Power Electronics, Vol.6(2), pp.359-374
01/08/2010
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