- Titre
- 1/f noise in metal-oxide-semiconductor transistors biased in weak inversionparameter extraction
- Créateurs - sans rôle
- J. Rhayem - Université de MontpellierD. Rigaud - Université de MontpellierA. Eya'AM. Valenza - Université de MontpellierA. Hoffmann - Supélec
- Détails de publication
- Journal of Applied Physics, Vol.89(7), pp.4192-4194
- Identifiants
- 99153423309311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-00323794
Article de revue
1/f noise in metal-oxide-semiconductor transistors biased in weak inversionparameter extraction
Journal of Applied Physics, Vol.89(7), pp.4192-4194
2001
Indicateurs
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