Résumé
Les systèmes électroniques du CERN, tant dans l'accélérateur que dans les expériences, sont exposés aux environnements particuliers de rayonnement intense induits par les différents accélérateurs de particules. La capacité de ces systèmes à résister aux effets des rayonnements sur l'électronique est donc cruciale pour maintenir le bon fonctionnement des accélérateurs et atteindre les objectifs ambitieux de l'organisation. Pour garantir la fiabilité nécessaire, l'équipement électronique doit passer une série d'étapes de qualification qui constituent la procédure d'assurance de la dureté des rayonnements (RHA).La mise à niveau du Grand collisionneur de hadrons (LHC) prévue pour 2029 (LHC à haute luminosité (HL-LHC)) augmentera considérablement les niveaux de rayonnement auxquels les systèmes de l'accélérateur doivent résister. Dans ces conditions, il peut s'avérer complexe de mener à bien la procédure RHA tout en conservant les marges de conception des rayonnements du LHC actuellement utilisées et en utilisant des composants commerciaux prêts à l'emploi (COTS).L'objectif de cette recherche est d'améliorer la procédure existante de l'RHA pour répondre à ces nouveaux besoins. Les différentes étapes du processus sont examinées et les phases "Analyse de l'environnement de rayonnement" et "Test au niveau du système" sont identifiées comme pouvant être améliorées. À cette fin, un nouveau système de monitorage des rayonnements sans fil pour l'électronique est développé et présenté dans le cadre de ce travail. Grâce à ses capacités de déploiement plus rapides et plus efficaces dans l'accélérateur, ce projet de pointe vise à réduire l'incertitude de l'estimation offerte par la phase "Analyse de l'environnement de rayonnement". D'autre part, sa qualification offre la possibilité d'améliorer la phase "Test au niveau du système" grâce au développement de nouvelles lignes directrices et méthodologies de test au niveau du système. Ces nouvelles approches permettront d'améliorer le processus actuel d'analyse de l'environnement radiatif et d'obtenir des résultats plus fiables lors de l'exécution de la phase "Test au niveau du système".