Résumé
Dans le domaine des cristaux piézoélectriques, le quartz est l’un des plus employés dans l’industrie électroniques pour des applications comme oscillateurs ou dans le domaine temps-fréquence. Le quartz-α SiO2 montre une décroissance de ses propriétés au-delà de 250°C, une transition de phase α-β à 573°C et un faible coefficient de couplage électromécanique k autour de 8%. La présente étude a porté sur l’étude d’un ensemble de structures non centromériques piezoélectriques. L’étude bibliographique réalisée durant ce travail a conduit à choisir trois familles : Les homéotypes de quartz MXO4, Les sulfates doubles de lanthanides NaLn(SO4)2.H2O et les iodates métallique M(IO3)2 ou M(IO3)3. Ces matériaux susceptibles d’être préparés à basse température par évaporation ou par voie hydrothermale. Chaque nouveau composé préparé est d’abord caractérisé par son diagramme de diffraction des rayons X sur poudre. Si nécessaire, sa structure cristalline est ensuite déterminée par diffraction des rayons X sur monocristal. Leur stabilité thermique est ensuite évaluée. Les propriétés piézoélectriques de ces matériaux sont ainsi inspectées par des calculs DFT. Les résultats obtenus dans le cadre de ce large travail de synthèse et de calcul DFT ouvrent un vaste champ d’investigation vers ces familles avec différentes compositions.