Résumé
La réduction des dimensions des circuits intégrés a toujours été faite au bénéfice de meilleures performances. Mais aujourd'hui, cette réduction s'accompagne d'un impact croissant des variations du processus de fabrication. Au niveau temporel, on peut ramener ces effets à une probabilité plus élevée de violations des temps de maintien et d'établissement au niveau des bascules. Actuellement, comme principale réponse face à ce problème, les marges de sécurité sont augmentées. Cet article propose une méthodologie d'étude basée sur le concept d'analyse statistique temporelle (SSTA) et de calculs de probabilité de violation. Les résultats obtenus, provenant de son application sur un opérateur arithmétique en technologie 65 nm, permettent d'avoir des informations beaucoup plus précises que celles données par les outils existants, permettant dès lors de meilleures optimisations et une baisse du pessimisme introduit par l'utilisation de marges de conception.