Résumé
An overview is given how X-ray diffraction can be used for the investigation of the deformation of wood cellulose at the nanoscale.
- Titre
- X-ray diffraction use for nanostructural investigation of wood cellulose deformation
- Créateurs - sans rôle
- Cédric Montero - Mécanique de l'Arbre et du BoisBruno Clair - Mécanique de l'Arbre et du BoisTancrède Almeras - Mécanique de l'Arbre et du BoisArie van Der Lee - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
- Colloque
- Experimental and Computational Micro-Characterization techniques in Wood Mechanics (Hamburg, Germany, 05/10/2010–08/10/2010)
- Identifiants
- 9942212209311
- Unité académique
- Laboratoire de Mécanique et Génie Civil - LMGC; Institut Européen des Membranes - IEM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-00525585