- Titre
- Variability Analysis of an SRAM Test Chip
- Créateurs - sans rôle
- Renan Alves Fonseca - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNabil Badereddine - Infineon Technologies France
- Détails de publication
- 16th IEEE European Test Symposium
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Trondheim, Norway, 23/05/2011–27/05/2011)
- Identifiants
- 9945832609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00651791
Acte de colloque
Variability Analysis of an SRAM Test Chip
16th IEEE European Test Symposium
ETS: European Test Symposium (Trondheim, Norway, 23/05/2011–27/05/2011)
23/05/2011
Indicateurs
1 Consultations de la notice