- Titre
- Validation Of Single BBICS Architecture In Detecting Multiple Faults
- Créateurs - sans rôle
- Raphael Andreoni Camponogara-VieraRodrigo Possamai Bastos - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrésJean-Max Dutertre - Département Systèmes et Architectures SécurisésOlivier Potin - Département Systèmes et Architectures SécurisésMarie-Lise Flottes - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsGiorgio Di Natale - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsBruno Rouzeyre - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
- Détails de publication
- 24th IEEE Asian Test Symposium
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (Mumbai, India, 22/11/2015–25/11/2015)
- Identifiants
- 9944957109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-01234067
Acte de colloque
Validation Of Single BBICS Architecture In Detecting Multiple Faults
24th IEEE Asian Test Symposium
ATS: Asian Test Symposium (Mumbai, India, 22/11/2015–25/11/2015)
2015
Indicateurs
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