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Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs
Acte de colloque

Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs

Emna Bel-Kamel, Etienne Perret, Arnaud Vena et Smail Tedjini
18èmes Journées Nationales Microondes (Paris, France, 05/2013)
2013

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