- Titre
- User-Constrained Test Architecture Design for Modular SOC Testing
- Créateurs - sans rôle
- L. Krundel - Philips (Spain)S. Kumar GoelE.J. Marinissen - Philips (Finland)Marie-Lise Flottes - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierBruno Rouzeyre - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
- Détails de publication
- 9th IEEE European Test Symposium, pp.80-85
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Ajaccio, Corsica, France, 23/05/2004–26/05/2004)
- Identifiants
- 9943774709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108903
Acte de colloque
User-Constrained Test Architecture Design for Modular SOC Testing
9th IEEE European Test Symposium, pp.80-85
ETS: European Test Symposium (Ajaccio, Corsica, France, 23/05/2004–26/05/2004)
2004
Indicateurs
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