- Titre
- Use of the radiation induced charge neutralization mechanism to achieve annealing of complex electronics devices
- Créateurs - sans rôle
- O. QuittardFrédéric Saigné - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierF. JoffreC. OudeaL. Dusseau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJ. Fesquet - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJ. Gasiot - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- 36th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Norfolk, United States, 1999)
- Identifiants
- 9946590209311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01803880
Acte de colloque
Use of the radiation induced charge neutralization mechanism to achieve annealing of complex electronics devices
36th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Norfolk, United States, 1999)
Indicateurs
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