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Tutorial intitulé "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices"
Acte de colloque   Open Access

Tutorial intitulé "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices"

Patrick Girard, Nicola Nicolici et Xiaoqing Wen
ICM'2010: International Conference on Microelectronics (La Caire, Egypt, 19/12/2010–22/12/2010)
19/12/2010

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