- Titre
- Towards Non-destructive High Resolution Thermal Methods for Electric Charge Measurements in Solid Dielectrics and Components
- Créateurs - sans rôle
- P. Notingher - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. HoleS. BaudonO. Fruchier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESL. Boyer - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Agnel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- ESA/IEEE/SFE/ESJ Electrostatics Joint Conference (Cambridge, Canada, 2012)
- Identifiants
- 9947708709311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01882832
Acte de colloque
Towards Non-destructive High Resolution Thermal Methods for Electric Charge Measurements in Solid Dielectrics and Components
ESA/IEEE/SFE/ESJ Electrostatics Joint Conference (Cambridge, Canada, 2012)
Indicateurs
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