- Titre
- Total Dose Effects on Bipolar ICs: Characterization of the Saturation Region
- Créateurs - sans rôle
- J. Boch - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierFrédéric Saigné - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierS. Ducret - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierR. D. Schrimpf - Vanderbilt UniversityD. M. FleetwoodP. IacconiL. Dusseau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- 41th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Atlanta, United States, 2004)
- Identifiants
- 9944759009311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01806819
Acte de colloque
Total Dose Effects on Bipolar ICs: Characterization of the Saturation Region
41th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Atlanta, United States, 2004)
Indicateurs
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