- Titre
- Tolérance aux fautes et rendement de fabrication
- Créateurs - sans rôle
- Ahn Duc Tran - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesHans-Joachim Wunderlich - Institut für Technische Informatik
- Colloque
- GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP (Cergy, France)
- Identifiants
- 99151670109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- French
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00553995
Acte de colloque
Tolérance aux fautes et rendement de fabrication
GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP (Cergy, France)
09/06/2010
Indicateurs
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