- Titre
- Timing Defect Analysis in Look-Up Tables of SRAM-Based FPGAs
- Créateurs - sans rôle
- Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesOlivier Héron - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.26-31
- Colloque
- LATW: Latin American Test Workshop (Natal, Brazil, 16/02/2003)
- Identifiants
- 9947675809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269497
Acte de colloque
Timing Defect Analysis in Look-Up Tables of SRAM-Based FPGAs
4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.26-31
LATW: Latin American Test Workshop (Natal, Brazil, 16/02/2003)
2003
Indicateurs
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