- Titre
- Three-Dimensional Tomography of Dielectric Materials Using Electrostatic Force Microscopy
- Créateurs - sans rôle
- Clément Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESRichard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAngel Alegria - Consejo Superior de Investigaciones CientíficasJuan Colmenero - University of the Basque CountryJuan José Saenz - Donostia International Physics Center
- Colloque
- 2011 MRS Fall Meeting & Exhibit (Boston, United States, 11/2011)
- Identifiants
- 9963424809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01813909
Acte de colloque
Three-Dimensional Tomography of Dielectric Materials Using Electrostatic Force Microscopy
2011 MRS Fall Meeting & Exhibit (Boston, United States, 11/2011)
Indicateurs
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