- Titre
- The use of a scanning electron microscope as localized micro-beam irradiator
- Créateurs - sans rôle
- Y. Gonzalez Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Pichot - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Mekki - European Organization for Nuclear ResearchN. RocheS. PerezC. Deneau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESL. Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESE. Lorfèvre - Centre National d'Études Spatiales
- Colloque
- 8th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems (Langenfeld, Austria, 2010)
- Identifiants
- 9946899209311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01823539
Acte de colloque
The use of a scanning electron microscope as localized micro-beam irradiator
8th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems (Langenfeld, Austria, 2010)
Indicateurs
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