- Titre
- The future of Embedded Test within the Design for Micro & Nano Manufacture NoE
- Créateurs - sans rôle
- Pascal Nouet - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT (Stresa, Lago Maggiore, Italy, 26/04/2006–28/04/2006)
- Identifiants
- 9947324809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00406909
Acte de colloque
The future of Embedded Test within the Design for Micro & Nano Manufacture NoE
Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT (Stresa, Lago Maggiore, Italy, 26/04/2006–28/04/2006)
23/04/2007
Indicateurs
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