- Titre
- The Use of Filtered High-Energy X-rays and 60Co for TID Testing of a 32-Bit 28nm FDSOI DSP
- Créateurs - sans rôle
- Alejandro Urena Acuna - DPHY, ONERA, Université de Toulouse [Toulouse]Julien Favrichon - Institut des Sciences et technologies pour une Economie Circulaire des énergies bas carboneAurélien Ballier - Université de MontpellierPierre-Alexis Robin - Université de MontpellierVincent Girones - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESTadec Maraine - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- ESREF 2024 - 35th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (Parme, Italy, 23/09/2024–24/09/2024)
- Identifiants
- 9941109909311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-04892361
Acte de colloque
The Use of Filtered High-Energy X-rays and 60Co for TID Testing of a 32-Bit 28nm FDSOI DSP
ESREF 2024 - 35th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (Parme, Italy, 23/09/2024–24/09/2024)
2024
Indicateurs
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