- Titre
- The Pros and Cons of Very-Low-Voltage Testing: An Analysis Based on Resistive Bridging Faults
- Créateurs - sans rôle
- P. EngelkeI. PolianMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesB. SeshadriP. Becker
- Détails de publication
- VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium, pp.171-178
- Colloque
- VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium (Napa Valley, CA (USA), 25/04/2004–29/04/2004)
- Identifiants
- 9944865709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108845
Acte de colloque
The Pros and Cons of Very-Low-Voltage Testing: An Analysis Based on Resistive Bridging Faults
VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium, pp.171-178
VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium (Napa Valley, CA (USA), 25/04/2004–29/04/2004)
2004
Indicateurs
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