- Titre
- Test of Low Power Circuits: Issues and Industrial Practices
- Créateurs - sans rôle
- Alberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 23rd IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
- Colloque
- ICECS: International Conference on Electronics, Circuits and Systems (Monte Carlo, Monaco, 11/12/2016–14/12/2016)
- Identifiants
- 9945060609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-01433330
Acte de colloque
Test of Low Power Circuits: Issues and Industrial Practices
23rd IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
ICECS: International Conference on Electronics, Circuits and Systems (Monte Carlo, Monaco, 11/12/2016–14/12/2016)
2016
Indicateurs
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