- Titre
- Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes
- Créateurs - sans rôle
- Julien Vial - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- Colloque du GDR SoC-SiP (Paris, France, 13/06/2007–15/06/2007)
- Identifiants
- 9944962009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- French
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00194278
Acte de colloque
Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes
Colloque du GDR SoC-SiP (Paris, France, 13/06/2007–15/06/2007)
2007
Indicateurs
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