- Titre
- Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques
- Créateurs - sans rôle
- Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- Réunion Action Spécifique CNRS "TestSOC-MRF" (2004)
- Identifiants
- 99152957309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- French
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00109139
Acte de colloque
Test de Fautes de Délai dans les Circuits Intégrés Numériques
Réunion Action Spécifique CNRS "TestSOC-MRF" (2004)
2004
Indicateurs
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