- Titre
- Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories
- Créateurs - sans rôle
- João AzevedoArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- GDR SOC-SIP'11: Colloque GDR SoC-SiP (Lyon, France)
- Identifiants
- 9947666909311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00679516
Acte de colloque
Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories
GDR SOC-SIP'11: Colloque GDR SoC-SiP (Lyon, France)
15/06/2011
Indicateurs
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