- Titre
- Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing
- Créateurs - sans rôle
- Fangmei Wu - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMohammad Tehranipoor - University of ConnecticutKohei Miyase - Kyushu Institute of TechnologyXiaoqing Wen - Kyushu Institute of TechnologySyed Zahid Ahmed - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Colloque
- GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP (Cergy, France)
- Identifiants
- 9942267809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00553989
Acte de colloque
Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing
GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP (Cergy, France)
09/06/2010
Indicateurs
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