- Titre
- Test Power: A Big Issue in Large SOC Design
- Créateurs - sans rôle
- Yannick Bonhomme - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, pp.447-449
- Colloque
- IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications (Christchurch, New Zeland)
- Identifiants
- 99150692109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00268493
Acte de colloque
Test Power: A Big Issue in Large SOC Design
IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, pp.447-449
IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications (Christchurch, New Zeland)
2002
Indicateurs
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