Test March pour la Détection des Fautes Dynamiques dans les Décodeurs de Mémoires SRAM

Acte de colloque

Open Access

Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri et Magali Bastian Hage-Hassan

JNRDM'04 : 7ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, pp.495-497

JNRDM'04 : 7ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Marseille, France, 04/05/2004–06/05/2004)

2004

Résumé

Test March pour la Détection des Fautes Dynamiques dans les Décodeurs de Mémoires SRAM

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Titre: Test March pour la Détection des Fautes Dynamiques dans les Décodeurs de Mémoires SRAM
Créateurs - sans rôle: Luigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Serge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Arnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Simone Borri - Infineon Technologies France
Magali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies France
Détails de publication: JNRDM'04 : 7ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, pp.495-497
Colloque: JNRDM'04 : 7ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Marseille, France, 04/05/2004–06/05/2004)
Identifiants: 9946650209311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: French
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: lirmm-00108644