- Titre
- Test Control for Secure Scan Designs
- Créateurs - sans rôle
- David Hely - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesFrédéric Bancel - STMicroelectronicsMarie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 10th IEEE European Test Symposium, pp.190-195
- Colloque
- ETS: European Test Symposium (Tallinn, Estonia, 22/05/2005–25/05/2005)
- Identifiants
- 9946050309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00106011
Acte de colloque
Test Control for Secure Scan Designs
10th IEEE European Test Symposium, pp.190-195
ETS: European Test Symposium (Tallinn, Estonia, 22/05/2005–25/05/2005)
2005
Indicateurs
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