- Titre
- Temperature Effect on the Heavy-Ion Induced Single-Event Transients Propagation on a CMOS Bulk 0.18 µm Inverters chain
- Créateurs - sans rôle
- D. Truyen - Atmel CorporationJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESB. Sagnes - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESN. RenaudE. Leduc - Atmel CorporationM. Briet - Atmel CorporationC. HengS. Mouton - ONERA - The French Aerospace Lab [Mauzac]Frédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Deauville, France, 2007)
- Identifiants
- 9946998509311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01822424
Acte de colloque
Temperature Effect on the Heavy-Ion Induced Single-Event Transients Propagation on a CMOS Bulk 0.18 µm Inverters chain
9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Deauville, France, 2007)
Indicateurs
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