- Titre
- Temperature Effect Study on Heavy-Ion Induced Parasitic Current on SRAM by Device Simulation
- Créateurs - sans rôle
- D. Truyen - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJ. Boch - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierB. Sagnes - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierN. RenaudE. LeducS. ArnalFrédéric Saigné - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- 6th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems (Athènes, Greece, 2006)
- Identifiants
- 9944666709311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01808291
Acte de colloque
Temperature Effect Study on Heavy-Ion Induced Parasitic Current on SRAM by Device Simulation
6th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems (Athènes, Greece, 2006)
Indicateurs
1 Consultations de la notice