- Titre
- Synergy of non-ionizing and ionizing processes in the reliability degradation of Power MOSFETs oxide
- Créateurs - sans rôle
- M. Naceur - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESM. Gedion - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESE. Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- IEEE RADECS (Seville, Spain, 2011)
- Identifiants
- 9946898409311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01824307
Acte de colloque
Synergy of non-ionizing and ionizing processes in the reliability degradation of Power MOSFETs oxide
IEEE RADECS (Seville, Spain, 2011)
Indicateurs
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