- Titre
- Susceptibility of a low frequency bipolar transistor subject to a double agression: dose irradiation and high frequency CW or pulse modulated signal
- Créateurs - sans rôle
- Adrien Doridant - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérémy Raoult - Institut d'Électronique et des SystèmesSylvie Jarrix - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- European Test and Telemetry Conference (Toulouse, France, 11/06/2013)
- Identifiants
- 9945558109311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01893843
Acte de colloque
Susceptibility of a low frequency bipolar transistor subject to a double agression: dose irradiation and high frequency CW or pulse modulated signal
European Test and Telemetry Conference (Toulouse, France, 11/06/2013)
Indicateurs
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