- Titre
- Study of the Contribution of Latent Defects Induced by Swift Heavy Ion Irradiation on the Gate Oxide Breakdown
- Créateurs - sans rôle
- M. Marinoni - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESD. ZanderC. PetitA.M.J.F. Carvalho - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESC. WeulersseF. Miller - EADS, Corporate Research CenterT. Carriere - EADS, Corporate Research CenterE. Lorfèvre - Centre National d'Études Spatiales
- Colloque
- 7th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems (Jyvaskyla, Finland, 2008)
- Identifiants
- 9946885109311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01822746
Acte de colloque
Study of the Contribution of Latent Defects Induced by Swift Heavy Ion Irradiation on the Gate Oxide Breakdown
7th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems (Jyvaskyla, Finland, 2008)
Indicateurs
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