- Titre
- Study of a SOI SRAM Sensitivity to SEU by 3-D Device Simulation
- Créateurs - sans rôle
- K. Castellani-Coulié - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierB. Sagnes - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierFrédéric Saigné - Centre de Recherche en Sciences et Technologies de l'Information et de la CommunicationJ.-M. Palau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierM.-C. CalvetP.E. DoddF.W. Sexton
- Colloque
- 7th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Noordwijk, Netherlands, 2003)
- Identifiants
- 99153467709311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01806785
Acte de colloque
Study of a SOI SRAM Sensitivity to SEU by 3-D Device Simulation
7th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (Noordwijk, Netherlands, 2003)
Indicateurs
1 Consultations de la notice