Structural evolution and charge storage mechanism of sputtered LiMn15Ni1,5O4 thin films by X-ray diffraction and Raman spectroscopy

$Structural evolution and charge storage mechanism of sputtered LiMn15Ni1,5O4 thin films by X-ray diffraction and Raman spectroscopy$

Acte de colloque

Ankush Bhatia, Clément Leviel, Maxime Hallot, Jean Pierre Pereira-Ramos, C. Lethien, Pascal Roussel et Rita Baddour-Hadjean

European Materials Research Society Spring meeting (EMRS 2021) (Virtual - Online, France, 31/05/2021)

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Titre: Structural evolution and charge storage mechanism of sputtered LiMn15Ni1,5O4 thin films by X-ray diffraction and Raman spectroscopy
Créateurs - sans rôle: Ankush Bhatia - Institut de Chimie et des Matériaux Paris-Est
Clément Leviel - Catalyse
Maxime Hallot - Institut d'électronique de microélectronique et de nanotechnologie
Jean Pierre Pereira-Ramos - Institut de Chimie et des Matériaux Paris-Est
C. Lethien - Institut d'électronique de microélectronique et de nanotechnologie
Pascal Roussel - Catalyse
Rita Baddour-Hadjean - Laboratoire de Dynamique Interactions et Réactivité
Colloque: European Materials Research Society Spring meeting (EMRS 2021) (Virtual - Online, France, 31/05/2021)
Identifiants: 9979337309311
Unité académique: Université de Montpellier
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-04410870