- Titre
- Statistical Sizing of an eSRAM Dummy Bitline Driver for Read Margin Improvement in the Presence of Variability Aspects
- Créateurs - sans rôle
- Michael Yap San Min - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMPhilippe Maurine - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMagali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies FranceMichel Robert - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- ISVLSI'08: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, pp.310-315
- Colloque
- ISVLSI'08: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (Montpellier, France, 09/04/2008)
- Identifiants
- 9945554009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00280716
Acte de colloque
Statistical Sizing of an eSRAM Dummy Bitline Driver for Read Margin Improvement in the Presence of Variability Aspects
ISVLSI'08: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, pp.310-315
ISVLSI'08: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (Montpellier, France, 09/04/2008)
07/04/2008
Indicateurs
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