Résumé
In this paper SEL cross sections were calculated from TCAD simulations varying doping profiles and anode-to-cathode spacing values. We found that doping profiles variation has a stronger impact on SEL sensitivity then variation of spacing.
- Titre
- Single Event Latchup Cross Section Calculation from TCAD Simulations – Effects of the Doping Profiles and Anode to Cathode Spacing
- Créateurs - sans rôle
- S. GuagliardoFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESY. Q. AguiarJ.-L. AutranP. LerouxF. Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESV. Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Détails de publication
- IEEE Transactions on Nuclear Science Modeling and Simulation of Radiation Effects 2019
- Colloque
- IEEE RADECS 2019 (Montpellier, France, 16/09/2019–20/09/2019)
- Publications en série
- IEEE Transactions on Nuclear Science
- Identifiants
- 9944010609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02446849