- Titre
- Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random- Access Memory
- Créateurs - sans rôle
- Alexandre Louis Bosser - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsViyas Gupta - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESArto Javanainen - University of JyväskyläGeorgios Tsiligiannis - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsStephen D. Lalumondiere - The Aerospace CorporationDale BreweVéronique Ferlet-Cavrois - European Space Research and Technology CentreHelmut Puchner - Cypress Semiconductor [San Jose]Heikki Kettunen - University of JyväskyläThierry Gil - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAri Virtanen - University of JyväskyläLuigi Dilillo - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
- Détails de publication
- 17th IEEE European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
- Colloque
- RADECS: Radiation and Its Effects on Components and Systems (Genève, Switzerland, 02/10/2017–06/10/2017)
- Identifiants
- 9942718209311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01929267
Acte de colloque
Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random- Access Memory
17th IEEE European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
RADECS: Radiation and Its Effects on Components and Systems (Genève, Switzerland, 02/10/2017–06/10/2017)
2017
Indicateurs
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