Single-Event Effects Laser Testing of a 7nm FinFET System-on-Chip with AI-Acceleration Capabilities

Salma Achaq; Vincent Pouget; Laurent Artola; Florent Manni; Arnaud Dufour; Jérôme Boch

Acte de colloque

Single-Event Effects Laser Testing of a 7nm FinFET System-on-Chip with AI-Acceleration Capabilities

Salma Achaq, Vincent Pouget, Laurent Artola, Florent Manni, Arnaud Dufour et Jérôme Boch

RADLAS 2024 - 6th Workshop on Laser Testing of Radiation Effects on Components and Systems (Noordwijk, Netherlands, 11/09/2024–11/09/2024)

2024

Résumé

Radiative environment

Embedded system

Environnement radiatif

Système embarqué

We present our single-event effects (SEE) laser testing method and results on a commercial programmable 7nm FinFET System-on-Chip (SoC) obtained using backside single-photon absorption (SPA).

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Indicateurs

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Détails

Titre: Single-Event Effects Laser Testing of a 7nm FinFET System-on-Chip with AI-Acceleration Capabilities
Créateurs - sans rôle: Salma Achaq - Université de Toulouse
Vincent Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Laurent Artola - DPHY, ONERA, Université de Toulouse [Toulouse]
Florent Manni - Centre National d'Études Spatiales
Arnaud Dufour - Centre National d'Études Spatiales
Jérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Colloque: RADLAS 2024 - 6th Workshop on Laser Testing of Radiation Effects on Components and Systems (Noordwijk, Netherlands, 11/09/2024–11/09/2024)
Identifiants: 9935160409311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-04893974